科研装备库数据----中国科学院广州能源研究所资源库

X射线衍射仪X-ray Diffractometer (XRD)

装备编号

分析测试中心3

装备状态

正常使用

购买时间

2005.1.20

获取方式

国外购买

主要用途

可以分析任何固体材料，广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料等的物质晶体结构，能对岩石、土壤、金属材料、化工原料与产品、人体结石等试样中的物相进行定性与定量分析，并可测定物相的点阵参数、晶粒度、结晶度及开展有关晶体结构方面的研究。材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体。

负责人

张少鸿

地址

新能源大楼1楼

联系电话

020-87057706

主要功能及技术指标

预校准光路全模块化,不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。X'Celerator超能探测器接收效率、灵敏度、稳定性高。配备相应软件及PDF-2国际粉末衍射数据库，可进行物相定性、定量分析，晶体点阵参数测定，晶粒大小/微观应力分析，残余应力分析及薄膜分析。

X射线发生器：最大输出功率：3kw ；陶瓷X光管：最大功率：2.2kW（Cu靶），最大管压：60kV ，最大管流：55mA ，焦斑：长细焦斑12×0.4mm及点焦斑；测角仪：扫描方式：θ/θ模式，角度重现性：±0.0001°(空载)，2θ范围：0.5～5º、5～160º ，角度精度：0.0025º；分辨率：0.037º ；X’Celeraor超能探测器：最大计数率5000kcps，99%线性范围:>900kcps，最小背景<0.1cps；正比探测器：最大计数率： 1000kcps，99%线性范围: >1000kcps，最大背景：2cps 。

其它备注

X’Pert Pro MPD。荷兰帕纳科。

仪器由主控制室、X射线发生器、测角仪、探测器、控制及计算机系统和循环水冷却系统组成。主要配件包括1. 超能探测器；2.正比探测器；3.固体或粉末水平样品台；4.低温样品台（温控范围：-193～450 ^oC）；5.高温样品台（温控范围：室温～1200 ^oC）。

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